Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array

Type de document :
Communication dans un congrès
ITC'2011: International Test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. pp.N/A, 2011
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2012 - 17:42:30
Dernière modification le : mardi 4 septembre 2018 - 15:00:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679524, version 1

Citation

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array. ITC'2011: International Test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. pp.N/A, 2011. 〈lirmm-00679524〉

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