Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679524

Soumis le : jeudi 15 mars 2012-17:42:30

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:23:43

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00679524 , version 1 (15-03-2012)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679524 , version 1

Citer

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array. ITC: International Test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States. ⟨lirmm-00679524⟩

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