Dynamic-Stress Neutrons Test of Commercial SRAMs

Paolo Rech 1 Jean-Marc Galliere 1 Patrick Girard 1 Frédéric Wrobel 2 Frédéric Saigné 2 Luigi Dilillo 1, *
* Auteur correspondant
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : We present a new dynamic test protocol for stressing irradiated commercially available SRAMs. Experimental results attest that cell-level stress must be applied to measure an accurate neutron-induced error rate of devices under working conditions.
Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2012, Las Vegas, NV, United States. pp.1-4, 2011, 〈http://www.nsrec.com/〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00805349
Contributeur : Luigi Dilillo <>
Soumis le : mercredi 27 mars 2013 - 16:32:10
Dernière modification le : mercredi 30 mai 2018 - 09:34:04

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00805349, version 1

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Citation

Paolo Rech, Jean-Marc Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Dynamic-Stress Neutrons Test of Commercial SRAMs. IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2012, Las Vegas, NV, United States. pp.1-4, 2011, 〈http://www.nsrec.com/〉. 〈lirmm-00805349〉

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