Resistive-Open Defects Affecting Bit-Line Selection in TAS-MRAM Architectures

João Azevedo 1 Arnaud Virazel 1 Alberto Bosio 1 Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Aida Todri-Sanial 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, 2012, Paris, France. 2012
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00806827
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : mardi 2 avril 2013 - 14:37:52
Dernière modification le : mardi 4 septembre 2018 - 15:00:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806827, version 1

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Citation

João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Resistive-Open Defects Affecting Bit-Line Selection in TAS-MRAM Architectures. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, 2012, Paris, France. 2012. 〈lirmm-00806827〉

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