Layout-Aware Pattern Evaluation and Analysis for Power-Safe Application of TDF Patterns - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Low Power Electronics Année : 2012

Layout-Aware Pattern Evaluation and Analysis for Power-Safe Application of TDF Patterns

Patrick Girard
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Mohammad Tehranipoor
  • Fonction : Auteur
University of Connecticut
Hassan Salmani
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 940569
University of Connecticut
Wei Zhao
  • Fonction : Auteur
University of Connecticut
Xiaoqing Wen
Kyushu Institute of Technology

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00816606

Soumis le : lundi 22 avril 2013-15:37:42

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00816606 , version 1 (22-04-2013)

Identifiants

Citer

Patrick Girard, Mohammad Tehranipoor, Hassan Salmani, Wei Zhao, Xiaoqing Wen. Layout-Aware Pattern Evaluation and Analysis for Power-Safe Application of TDF Patterns. Journal of Low Power Electronics, 2012, 8 (2), pp.248-258. ⟨10.1166/jolpe.2012.1188⟩. ⟨lirmm-00816606⟩

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