Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Abstract : Tutorial
Type de document :
Communication dans un congrès
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2009, Taichung, Taiwan. 18th IEEE Asian Test Symposium, 2009, 〈http://ats09.nchu.edu.tw/〉
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Contributeur : Patrick Girard <>
Soumis le : lundi 6 mai 2013 - 12:58:17
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19
Document(s) archivé(s) le : lundi 19 août 2013 - 15:20:58

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  • HAL Id : lirmm-00820650, version 1

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Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices. ATS: Asian Test Symposium, Nov 2009, Taichung, Taiwan. 18th IEEE Asian Test Symposium, 2009, 〈http://ats09.nchu.edu.tw/〉. 〈lirmm-00820650〉

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