Tutorial intitulé "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices"

Type de document :
Communication dans un congrès
ICM'2010: International Conference on Microelectronics, Dec 2010, La Caire, Egypt. 2010, 〈http://www.ieee-icm.com/〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00820692
Contributeur : Patrick Girard <>
Soumis le : lundi 6 mai 2013 - 14:32:30
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : lundi 19 août 2013 - 15:25:31

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  • HAL Id : lirmm-00820692, version 1

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Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen. Tutorial intitulé "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices". ICM'2010: International Conference on Microelectronics, Dec 2010, La Caire, Egypt. 2010, 〈http://www.ieee-icm.com/〉. 〈lirmm-00820692〉

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