Investigation on MCU Clustering Methodologies for Cross-Section Estimation of RAMs - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2015

Investigation on MCU Clustering Methodologies for Cross-Section Estimation of RAMs

Alexandre Louis Bosser
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Viyas Gupta
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1231992
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Georgios Tsiligiannis
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Arto Javanainen
  • Fonction : Auteur
Heikki Kettunen
  • Fonction : Auteur
Helmut Puchner
Frédéric Saigné
Radiations et composants
Institut d’Electronique et des Systèmes
Ari Virtanen
  • Fonction : Auteur
Frédéric Wrobel
Radiations et composants
Institut d’Electronique et des Systèmes
CV
Luigi Dilillo
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Résumé

During irradiation testing of RAMs, various failure scenarios may occur which may generate different characteristic Multiple Cell Upset (MCU) error patterns. This work proposes a method based on spatial and temporal criteria to identify them.

Domaines

Electronique Physique [physics]

Luigi Dilillo  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01254157

Soumis le : lundi 11 janvier 2016-18:37:09

Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01254157 , version 1 (11-01-2016)

Identifiants

Citer

Alexandre Louis Bosser, Viyas Gupta, Georgios Tsiligiannis, Arto Javanainen, Heikki Kettunen, et al.. Investigation on MCU Clustering Methodologies for Cross-Section Estimation of RAMs. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2015, 62 (6), pp.2620-2626. ⟨10.1109/TNS.2015.2496874⟩. ⟨lirmm-01254157⟩

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