Laser-Induced Fault Simulation

Feng Lu 1, 2 Giorgio Di Natale 2 Marie-Lise Flottes 2 Bruno Rouzeyre 2
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : This paper presents a multi-level simulator for laser-induced fault simulation in digital circuits. It automatically performs the simulation of laser-induced faults using layout information and laser spot information in order to locate affected gates and derive fault-models. The paper mainly focuses on multi-level simulation for obtaining high accuracy of the fault simulation at transistor level and high speed for the simulation of the rest of the circuit. This multi-level process allows handling natural and maliciously induced physical phenomenon leading to circuit misbehavior, while dealing with large circuits.
Type de document :
Communication dans un congrès
EUROMICRO DSD/SEAA, Sep 2013, Santander, Spain. 16th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD) & 39th Euromicro Conference on Software Engineering and Advanced Applications (SEAA), pp.609-614, 2013, 〈http://www.teisa.unican.es/dsd-seaa-2013/〉. 〈10.1109/DSD.2013.72〉
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Contributeur : Caroline Lebrun <>
Soumis le : mardi 10 janvier 2017 - 11:58:13
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:25
Document(s) archivé(s) le : mardi 11 avril 2017 - 14:19:10

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Feng Lu, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Laser-Induced Fault Simulation. EUROMICRO DSD/SEAA, Sep 2013, Santander, Spain. 16th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD) & 39th Euromicro Conference on Software Engineering and Advanced Applications (SEAA), pp.609-614, 2013, 〈http://www.teisa.unican.es/dsd-seaa-2013/〉. 〈10.1109/DSD.2013.72〉. 〈lirmm-01430807〉

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