Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP 2015)
Benoit Charlot
(1, 2)
,
Yoshio Mita
(3)
,
Pascal Nouet
(4)
,
Francis Pressecq
(5)
,
Gerold Schröpfer
(6)
,
Marta Rencz
(7)
,
Peter Schneider
(8)
1
IES -
Institut d’Electronique et des Systèmes
2 M2A - Matériaux, MicroCapteurs et Acoustique
3 UTokyo - The University of Tokyo
4 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
5 CNES - Centre National d’Études Spatiales [Paris]
6 Coventor
7 BME - Budapest University of Technology and Economics [Budapest]
8 TU Dresden - Technische Universität Dresden = Dresden University of Technology
2 M2A - Matériaux, MicroCapteurs et Acoustique
3 UTokyo - The University of Tokyo
4 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
5 CNES - Centre National d’Études Spatiales [Paris]
6 Coventor
7 BME - Budapest University of Technology and Economics [Budapest]
8 TU Dresden - Technische Universität Dresden = Dresden University of Technology
Benoit Charlot
- Function : Scientific advisor
- PersonId : 17289
- IdHAL : benoit-charlot
- ORCID : 0000-0001-7178-1949
- IdRef : 089073185
Pascal Nouet
- Function : Scientific advisor
- PersonId : 6242
- IdHAL : pascal-nouet
- ORCID : 0000-0003-2137-2623
- IdRef : 079135196
Marta Rencz
- Function : Scientific advisor
Peter Schneider
- Function : Scientific advisor