Electromagnetic analysis, deciphering and reverse engineering of integrated circuits (E-MATA HARI)
Laurent Chusseau
(1, 2)
,
Rachid Omarouayache
(1)
,
Jérémy Raoult
(1, 2)
,
Sylvie Jarrix
(1, 2)
,
Philippe Maurine
(3)
,
Karim Tobich
(3)
,
Alexandre Boyer
(4)
,
Bertrand Vrignon
(5)
,
John Shepherd
(5)
,
Thanh-Ha Le
(6)
,
Maël Berthier
(6)
,
Lionel Rivière
(7)
,
Bruno Robisson
(7)
,
Anne-Lise Ribotta
(8)
1
IES -
Institut d’Electronique et des Systèmes
2 RADIAC - Radiations et composants
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
4 LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes
5 Freescale Semiconductors, Toulouse
6 MORPHO (SAFRAN)
7 ERC CEA / EMSE - Équipe de Recherche Commune CEA - EMSE (SESAM : Secured Embedded Systems And Microelectronics)
8 CMP-ENSMSE - Centre Microélectronique de Provence - Site Georges Charpak (CMP-GC)
2 RADIAC - Radiations et composants
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
4 LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes
5 Freescale Semiconductors, Toulouse
6 MORPHO (SAFRAN)
7 ERC CEA / EMSE - Équipe de Recherche Commune CEA - EMSE (SESAM : Secured Embedded Systems And Microelectronics)
8 CMP-ENSMSE - Centre Microélectronique de Provence - Site Georges Charpak (CMP-GC)
Laurent Chusseau
- Function : Author
- PersonId : 21576
- IdHAL : laurent-chusseau
- ORCID : 0000-0002-4806-771X
- IdRef : 030932882
Jérémy Raoult
- Function : Author
- PersonId : 21517
- IdHAL : jeremy-raoult
- ORCID : 0000-0002-8193-9997
- IdRef : 083845801
Sylvie Jarrix
- Function : Author
- PersonId : 20527
- IdHAL : sylvie-jarrix
- IdRef : 139527699
Philippe Maurine
- Function : Author
- PersonId : 22073
- IdHAL : philippe-maurine
- ORCID : 0000-0002-9706-5710
- IdRef : 144880717
Alexandre Boyer
- Function : Author
- PersonId : 13283
- IdHAL : alexandre-boyer
- IdRef : 120179741
John Shepherd
- Function : Author
- PersonId : 772372
- ORCID : 0000-0003-2280-2541
Bruno Robisson
- Function : Author
- PersonId : 1499
- IdHAL : bruno-robisson
- ORCID : 0000-0003-0408-315X
- IdRef : 165479590
Abstract
Electromagnetic fault injections are produced on secured ICs aiming to break crypto codes. We describe in this paper the whole chain of optimization necessary to achieve this goal, namely 1/ physical optimization of near-field probe and setup, 2/ signal management in timing, shape, and localization to induce the fault while beating countermeasures and 3/ understanding of fault propagation in logic to eventually protect future ICs.