Investigation of Reliability and Performance for STT-MRAM under PVT Variations - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2016

Investigation of Reliability and Performance for STT-MRAM under PVT Variations

Liuyang Zhang
  • Fonction : Auteur
Beihang University
ADAptive Computing
Yuanquing Cheng
  • Fonction : Auteur
Beihang University
Wang Kang
  • Fonction : Auteur
Beihang University
Yaojun Zhang
  • Fonction : Auteur
Beihang University
Weisheng Zhao
  • Fonction : Auteur
Beihang University
Lionel Torres
ADAptive Computing
Aida Todri-Sanial
Smart Integrated Electronic Systems
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Caroline Lebrun  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01457244

Soumis le : lundi 6 février 2017-13:15:00

Dernière modification le : jeudi 21 mars 2024-15:03:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01457244 , version 1 (06-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01457244 , version 1

Citer

Liuyang Zhang, Yuanquing Cheng, Wang Kang, Yaojun Zhang, Weisheng Zhao, et al.. Investigation of Reliability and Performance for STT-MRAM under PVT Variations. 10e Colloque National du GDR SoC/SiP, Jun 2016, Nantes, France. , 2016. ⟨lirmm-01457244⟩

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