The impact of pulsed electromagnetic fault injection on true random number generators

Maxime Madau 1 Michel Agoyan 2 Josep Balash Milos Grujic Patrick Haddad 2 Philippe Maurine 1 Vladimir Rozic 3 Dave Singelee 4 Bohan Yang 5 Ingrid Verbauwhede 5
1 SmartIES - Smart Integrated Electronic Systems
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 ST-ROUSSET - STMicroelectronics [Rousset]
3 K.U.Leuven
4 ESAT-COSIC - Computer Security and Industrial Cryptography [KU Leuven]
KU-ESAT - Department of Electrical Engineering [KU Leuven]
5 ESAT/SCD-COSIC - Department of Electrical Engineering - K.U.Leuven
Type de document :
Communication dans un congrès
J. Daemen; L. Sauvage. FDTC: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, Sep 2018, Amsterdam, Netherlands. IEEE International Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2018, 〈http://conferenze.dei.polimi.it/FDTC18/〉. 〈10.5281/zenodo.1434075〉
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01943112
Contributeur : Philippe Maurine <>
Soumis le : lundi 3 décembre 2018 - 16:01:22
Dernière modification le : jeudi 21 février 2019 - 10:31:48

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Maxime Madau, Michel Agoyan, Josep Balash, Milos Grujic, Patrick Haddad, et al.. The impact of pulsed electromagnetic fault injection on true random number generators. J. Daemen; L. Sauvage. FDTC: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, Sep 2018, Amsterdam, Netherlands. IEEE International Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2018, 〈http://conferenze.dei.polimi.it/FDTC18/〉. 〈10.5281/zenodo.1434075〉. 〈lirmm-01943112〉

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