The impact of pulsed electromagnetic fault injection on true random number generators

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Communication dans un congrès
J. Daemen; L. Sauvage. FDTC: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, Sep 2018, Amsterdam, Netherlands. IEEE International Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2018, 〈http://conferenze.dei.polimi.it/FDTC18/〉. 〈10.5281/zenodo.1434075〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01943112
Contributeur : Philippe Maurine <>
Soumis le : lundi 3 décembre 2018 - 16:01:22
Dernière modification le : jeudi 21 février 2019 - 10:31:48

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Maxime Madau, Michel Agoyan, Josep Balash, Milos Grujic, Patrick Haddad, et al.. The impact of pulsed electromagnetic fault injection on true random number generators. J. Daemen; L. Sauvage. FDTC: Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, Sep 2018, Amsterdam, Netherlands. IEEE International Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2018, 〈http://conferenze.dei.polimi.it/FDTC18/〉. 〈10.5281/zenodo.1434075〉. 〈lirmm-01943112〉

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