Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test

S. Borri M. Hage-Hassan Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (2), pp.169-179
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006 - 07:51:23
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 19:17:36

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S. Borri, M. Hage-Hassan, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Analysis of Dynamic Faults in Embedded-SRAMs: Implications for Memory Test. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (2), pp.169-179. 〈lirmm-00105313〉

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