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Journal articles
Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications
Florence Azaïs
1
Serge Bernard
1
Mariane Comte
1
Yves Bertrand
1
Michel Renovell
1
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Florence Azaïs 1
Author IdHAL : florence-azais
Serge Bernard 1
Author IdHAL : serge-bernard ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/N-4452-2016 ORCID : https://orcid.org/0000-0003-1772-0592
Mariane Comte 1
Author IdHAL : mariane-comte
Yves Bertrand 1
Author
Michel Renovell 1
Author IdHAL : michel-renovell ORCID : https://orcid.org/0000-0002-3896-8231
1
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Document type :
Journal articles
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105322
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Wednesday, October 11, 2006 - 7:51:26 AM
Last modification on : Tuesday, January 5, 2021 - 4:00:04 PM
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Wednesday, October 11, 2006 - 7:51:26 AM
Last modification on : Tuesday, January 5, 2021 - 4:00:04 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00105322, version 1
Citation
Florence Azaïs, Serge Bernard, Mariane Comte, Yves Bertrand, Michel Renovell. Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (3), pp.291-298. ⟨lirmm-00105322⟩
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