Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2005
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105322
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006-07:51:26
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Citer
Florence Azaïs, Serge Bernard, Mariane Comte, Yves Bertrand, Michel Renovell. Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (3), pp.291-298. ⟨10.1007/s10836-005-6358-4⟩. ⟨lirmm-00105322⟩
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