Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications

Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Mariane Comte 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (3), pp.291-298
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105322
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006 - 07:51:26
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105322, version 1

Collections

Citation

Florence Azaïs, Serge Bernard, Mariane Comte, Yves Bertrand, Michel Renovell. Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (3), pp.291-298. 〈lirmm-00105322〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

127