Data Retention Fault in SRAM Memories: Analysis and Detection Procedures

Luigi Dilillo; Patrick Girard; Serge Pravossoudovitch; Arnaud Virazel; Mehdi Hage Hassan

Data Retention Fault in SRAM Memories: Analysis and Detection Procedures

Luigi Dilillo ¹ Patrick Girard ¹ Serge Pravossoudovitch ¹ Arnaud Virazel ¹ Mehdi Hage Hassan ²

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Communication dans un congrès

VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.183-188, 2005

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105995
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:44
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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