Data Retention Fault in SRAM Memories: Analysis and Detection Procedures

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.183-188, 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:44
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00105995, version 1

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Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Mehdi Hage Hassan. Data Retention Fault in SRAM Memories: Analysis and Detection Procedures. VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.183-188, 2005. 〈lirmm-00105995〉

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