Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

I. Polian; Kundu Sandip; Jean-Marc Galliere; P. Engelke; Michel Renovell; P. Becker

Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

I. Polian Kundu Sandip Jean-Marc Galliere ¹ P. Engelke Michel Renovell ² P. Becker

1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Communication dans un congrès

VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.343-348, 2005

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105997
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:45
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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