Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.343-348, 2005
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105997
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:45
Dernière modification le : jeudi 22 février 2018 - 16:50:03

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105997, version 1

Collections

Citation

I. Polian, Kundu Sandip, Jean-Marc Galliere, P. Engelke, Michel Renovell, et al.. Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies. VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.343-348, 2005. 〈lirmm-00105997〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

28