Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

I. Polian; Kundu Sandip; Jean-Marc Galliere; P. Engelke; Michel Renovell; P. Becker

Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

I. Polian Kundu Sandip Jean-Marc Galliere ¹ P. Engelke Michel Renovell ² P. Becker

1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Communication dans un congrès

VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), IEEE Computer Society, pp.343-348, 2005

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105997
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:45
Dernière modification le : jeudi 22 février 2018 - 16:50:03

Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

28

Contact

Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

28

Contact