Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

I. Polian
  • Fonction : Auteur
Kundu Sandip
  • Fonction : Auteur
Jean-Marc J.-M. Galliere
Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
CV
P. Engelke
  • Fonction : Auteur
Michel Renovell
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
P. Becker
  • Fonction : Auteur

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105997

Soumis le : vendredi 13 octobre 2006-10:22:45

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00105997 , version 1 (13-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105997 , version 1

Citer

I. Polian, Kundu Sandip, Jean-Marc J.-M. Galliere, P. Engelke, Michel Renovell, et al.. Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies. VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, May 2005, Palm Springs, CA (USA), pp.343-348. ⟨lirmm-00105997⟩

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