Why Do We Need to Reduce Peak Power Consumption During Scan Capture?

Nabil Badereddine 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 Christian Landrault 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
PATMOS'05: 15th International Workshop on Power and Timing ModelingOptimization and Simulation, Sep 2005, Leuven, Belgium. Springer, pp.540-549, 2005
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106111
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:23:14
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106111, version 1

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Citation

Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Christian Landrault. Why Do We Need to Reduce Peak Power Consumption During Scan Capture?. PATMOS'05: 15th International Workshop on Power and Timing ModelingOptimization and Simulation, Sep 2005, Leuven, Belgium. Springer, pp.540-549, 2005. 〈lirmm-00106111〉

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