Skip to Main content Skip to Navigation
Conference papers

Incidence des Défauts Résistifs dans les Circuits de Précharge des Mémoires SRAM

Document type :
Conference papers
Complete list of metadata

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106529
Contributor : Christine Carvalho de Matos <>
Submitted on : Monday, October 16, 2006 - 8:38:44 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00106529, version 1

Collections

Citation

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Magali Bastian Hage-Hassan. Incidence des Défauts Résistifs dans les Circuits de Précharge des Mémoires SRAM. JNRDM'05 : 8ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, Paris, France. ⟨lirmm-00106529⟩

Share

Metrics

Record views

98