Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design

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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (6), pp.647-660. 〈10.1007/s10677-004-4252-2〉
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 07:43:15
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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Yannick Bonhomme, Patrick Girard, L. Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (6), pp.647-660. 〈10.1007/s10677-004-4252-2〉. 〈lirmm-00108581〉

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