Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design

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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (6), pp.647-660
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 07:43:15
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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  • HAL Id : lirmm-00108581, version 1

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Citation

Yannick Bonhomme, Patrick Girard, L. Guiller, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (6), pp.647-660. 〈lirmm-00108581〉

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