Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults

Piet Engelke 1 I. Polian Michel Renovell 2 P. Becker
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.160-165, 2004
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108902
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:57:11
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108902, version 1

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Citation

Piet Engelke, I. Polian, Michel Renovell, P. Becker. Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults. ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. 9th IEEE European Test Symposium, pp.160-165, 2004. 〈lirmm-00108902〉

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