Realistic Fault Models for Defects in Electronic Circuits

Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
BEC'04: International Baltic Electronic Conference, Oct 2004, pp.33-37, 2004
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109134
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 24 octobre 2006 - 07:31:53
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00109134, version 1

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Citation

Michel Renovell. Realistic Fault Models for Defects in Electronic Circuits. BEC'04: International Baltic Electronic Conference, Oct 2004, pp.33-37, 2004. 〈lirmm-00109134〉

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