Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing

Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
1st DfMM Summer School, 2004, 2004
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109142
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 24 octobre 2006 - 07:31:56
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 02:08:11

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00109142, version 1

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Pascal Nouet. Electrically-Induced Thermal Stimuli for MEMS Testing. 1st DfMM Summer School, 2004, 2004. 〈lirmm-00109142〉

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