Analog and Mixed-Signal Test Bus: IEEE 1149.4 Test Standard - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2004

Analog and Mixed-Signal Test Bus: IEEE 1149.4 Test Standard

Florence Azaïs
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00109159

Soumis le : mardi 24 octobre 2006-07:34:46

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00109159 , version 1 (24-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00109159 , version 1

Citer

Florence Azaïs, Pascal Nouet. Analog and Mixed-Signal Test Bus: IEEE 1149.4 Test Standard. Huertas J.L. Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits, Kluwer Academic Publishers, pp.28, 2004, 1-4020-7724-6. ⟨lirmm-00109159⟩

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