Analog and Mixed-Signal Test Bus: IEEE 1149.4 Test Standard

Florence Azaïs 1 Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Chapitre d'ouvrage
Huertas J.L. Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits, Kluwer Academic Publishers, pp.28, 2004, 1-4020-7724-6
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 24 octobre 2006 - 07:34:46
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00109159, version 1

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Florence Azaïs, Pascal Nouet. Analog and Mixed-Signal Test Bus: IEEE 1149.4 Test Standard. Huertas J.L. Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits, Kluwer Academic Publishers, pp.28, 2004, 1-4020-7724-6. 〈lirmm-00109159〉

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