March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit

Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2006, Prague, République Tchèque, IEEE Computer Society Press, pp.256-261, 2006
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Contributeur : Christian Landrault <>
Soumis le : lundi 5 mars 2007 - 13:47:48
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02

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Luigi Dilillo, Patrick Girard, Magali Hage-Hassan, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. March Pre: an Efficient Test for Resistive-Open Defects in the SRAM Pre-charge Circuit. DDECS'06: Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2006, Prague, République Tchèque, IEEE Computer Society Press, pp.256-261, 2006. 〈lirmm-00134776〉

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