Technique Structurelle d'Affectation des Bits Non Spécifiés en Vue d'une Réduction de la Puissance de Pic Pendant le Test Série

Résumé : La consommation de puissance est devenue un paramètre important lors de la conception d'un circuit intégré. De plus, cette consommation est plus importante en mode test qu'en mode fonctionnel. Dans cet article nous nous intéressons à la puissance de pic durant le test série et plus spécialement pendant le cycle de test (entre l'application du vecteur de test et la capture de la réponse) afin d'éviter l'apparition de phénomènes de bruits. Nous proposons une technique de remplissage des bits non spécifiés des vecteurs de test basée sur l'analyse de la structure du circuit sous test. Les résultats expérimentaux montrent que cette technique propose le meilleur compris entre la réduction de la puissance de pic et l'augmentation de la séquence de test.
Mots-clés : Test
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France. 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2006
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Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2007 - 14:38:59
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 23:48:17

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  • HAL Id : lirmm-00136838, version 1

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Nabil Badereddine, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Christian Landrault, Arnaud Virazel, et al.. Technique Structurelle d'Affectation des Bits Non Spécifiés en Vue d'une Réduction de la Puissance de Pic Pendant le Test Série. JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2006, Rennes, France. 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2006. 〈lirmm-00136838〉

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