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Année : 2006
Patrick Girard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136926
Soumis le : jeudi 15 mars 2007-18:15:20
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48
Citer
Patrick Girard, Michel Renovell, Mohamed Masmoudi, Jaouhar Mouine (Dir.). International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS 2006). IEEE, 447 p., 2006, 0-7803-9726-6. ⟨10.1109/DTIS.2006.1708761⟩. ⟨lirmm-00136926⟩
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