DTIS'06: IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology

Résumé : Proceedings de conférence
Type de document :
Ouvrage (y compris édition critique et traduction)
IEEE, pp.447, 2006, 0-7803-9726-6
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136926
Contributeur : Patrick Girard <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2007 - 18:15:20
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 02:08:12

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00136926, version 1

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Citation

Patrick Girard, Michel Renovell, Mohamed Masmoudi, Jaouhar Mouine. DTIS'06: IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology. IEEE, pp.447, 2006, 0-7803-9726-6. 〈lirmm-00136926〉

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