International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS 2006)

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Direction d'ouvrage, Proceedings, Dossier
Tunis, Tunisia. IEEE, 447 p., 2006, 0-7803-9726-6. 〈10.1109/DTIS.2006.1708761〉
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Contributeur : Patrick Girard <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2007 - 18:15:20
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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Patrick Girard, Michel Renovell, Mohamed Masmoudi, Jaouhar Mouine. International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS 2006). Tunis, Tunisia. IEEE, 447 p., 2006, 0-7803-9726-6. 〈10.1109/DTIS.2006.1708761〉. 〈lirmm-00136926〉

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