Dynamic Two-Cell Incorrect Read Fault due to Resistive-Open Defects in the Sense Amplifiers of SRAMs

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.97-104, 2007, 〈10.1109/ETS.2007.19〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00158116
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 28 juin 2007 - 10:01:18
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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Alexandre Ney, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, et al.. Dynamic Two-Cell Incorrect Read Fault due to Resistive-Open Defects in the Sense Amplifiers of SRAMs. ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. 12th IEEE European Test Symposium, pp.97-104, 2007, 〈10.1109/ETS.2007.19〉. 〈lirmm-00158116〉

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