Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators

Vincent Kerzérho 1 Philippe Cauvet 2 Serge Bernard 1 Florence Azaïs 1 Michel Renovell 1 Mariane Comte 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop, Jun 2007, Povoa de Varzim, Portugal. pp.196-201, 2007
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00161708
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mercredi 11 juillet 2007 - 14:29:01
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00161708, version 1

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Citation

Vincent Kerzérho, Philippe Cauvet, Serge Bernard, Florence Azaïs, Michel Renovell, et al.. Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators. IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop, Jun 2007, Povoa de Varzim, Portugal. pp.196-201, 2007. 〈lirmm-00161708〉

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