Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00161708

Soumis le : mercredi 11 juillet 2007-14:29:01

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:49

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00161708 , version 1 (11-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00161708 , version 1

Citer

Vincent Kerzérho, Philippe Cauvet, Serge Bernard, Florence Azaïs, Michel Renovell, et al.. Fully-Efficient ADC Test Technique for ATE with Low Resolution Arbitrary Wave Generators. IMSTW'07: International Mixed-Signals Testing Workshop and 3rd International GHz/Gbps Test Workshop, Jun 2007, Povoa de Varzim, Portugal. pp.196-201. ⟨lirmm-00161708⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
93 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More