Test Power: A Big Issue in Large SOC Design

Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Christchurch, New Zeland, pp.447-449, 2002
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:32
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00268493, version 1

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Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Power: A Big Issue in Large SOC Design. IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Christchurch, New Zeland, pp.447-449, 2002. 〈lirmm-00268493〉

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