Test Power: A Big Issue in Large SOC Design - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Test Power: A Big Issue in Large SOC Design

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268493

Soumis le : mardi 1 avril 2008-09:27:32

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00268493 , version 1 (01-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268493 , version 1

Citer

Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Christian Landrault, Serge Pravossoudovitch. Test Power: A Big Issue in Large SOC Design. IEEE International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Christchurch, New Zeland, pp.447-449. ⟨lirmm-00268493⟩

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