Functional Test Generation Using Constraint Logic Programming

Z. Zeng M. Ciesielski Bruno Rouzeyre 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
Kluwer Academic Publishers. SoC Design Methodologies - International Conference on Very Large Scale Integration of Systems-on-Chip, Montpellier, France, pp.375-386, 2002
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00268536
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mardi 1 avril 2008 - 09:27:42
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00268536, version 1

Collections

Citation

Z. Zeng, M. Ciesielski, Bruno Rouzeyre. Functional Test Generation Using Constraint Logic Programming. Kluwer Academic Publishers. SoC Design Methodologies - International Conference on Very Large Scale Integration of Systems-on-Chip, Montpellier, France, pp.375-386, 2002. 〈lirmm-00268536〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

17