On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269498

Soumis le : jeudi 3 avril 2008-08:21:36

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00269498 , version 1 (03-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00269498 , version 1

Citer

Mariane Comte, Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Michel Renovell. On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. pp.198-203. ⟨lirmm-00269498⟩

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