On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors

Mariane Comte 1 Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.198-203, 2003
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:21:36
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00269498, version 1

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Citation

Mariane Comte, Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Michel Renovell. On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors. LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.198-203, 2003. 〈lirmm-00269498〉

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