An All-Digital DFT Scheme for Testing Catastrophic Faults in PLLs

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Article dans une revue
IEEE Design & Test, IEEE, 2003, 20 (1), pp.60-67
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : jeudi 3 avril 2008 - 08:22:54
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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  • HAL Id : lirmm-00269822, version 1

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Citation

Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell, André Ivanov, Sassan Tabatabaei. An All-Digital DFT Scheme for Testing Catastrophic Faults in PLLs. IEEE Design & Test, IEEE, 2003, 20 (1), pp.60-67. 〈lirmm-00269822〉

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