Article Dans Une Revue
IEEE Design & Test
Année : 2003
Christine Carvalho De Matos : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269822
Soumis le : jeudi 3 avril 2008-08:22:54
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50
Citer
Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell, André Ivanov, Sassan Tabatabaei. An All-Digital DFT Scheme for Testing Catastrophic Faults in PLLs. IEEE Design & Test, 2003, 20 (1), pp.60-67. ⟨10.1109/MDT.2003.1173054⟩. ⟨lirmm-00269822⟩
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