DDECS'07: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2007

DDECS'07: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems

Mots clés

Test Diagnostic Design

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Patrick Girard  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00326801

Soumis le : lundi 6 octobre 2008-09:00:31

Dernière modification le : vendredi 11 août 2023-14:26:04

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00326801 , version 1 (06-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00326801 , version 1

Citer

Patrick Girard, Elena Gramatova, Adam Pawlak, Andrezw Krasniewski, Tomasz Garbolino. DDECS'07: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. IEEE Computer Society, pp.300, 2007, 1-4244-1161-0. ⟨lirmm-00326801⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
96 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More