DDECS'07: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems

keyword : Test Diagnostic Design
Type de document :
Ouvrage (y compris édition critique et traduction)
IEEE Computer Society, pp.300, 2007, 1-4244-1161-0
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00326801
Contributeur : Patrick Girard <>
Soumis le : lundi 6 octobre 2008 - 09:00:31
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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  • HAL Id : lirmm-00326801, version 1

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Citation

Patrick Girard, Elena Gramatova, Adam Pawlak, Andrezw Krasniewski, Tomasz Garbolino. DDECS'07: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. IEEE Computer Society, pp.300, 2007, 1-4244-1161-0. 〈lirmm-00326801〉

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