Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks

Florence Azaïs 1 Yves Bertrand 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A, 2009
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00367718
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 12 mars 2009 - 11:08:09
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00367718, version 1

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Citation

Florence Azaïs, Yves Bertrand, Michel Renovell. Analyzing the Impact of Simultaneous Switching Noise on the Timing Behavior of CMOS Digital Blocks. LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A, 2009. 〈lirmm-00367718〉

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