The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE

Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lionel Torres  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406909

Soumis le : jeudi 23 juillet 2009-16:00:09

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00406909 , version 1 (23-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406909 , version 1

Citer

Pascal Nouet. The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE. Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, Apr 2006, Stresa, Lago Maggiore, Italy. ⟨lirmm-00406909⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
25 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More