The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE

Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, Italy. 2007, 〈www.patent-dfmm.org〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406909
Contributeur : Lionel Torres <>
Soumis le : jeudi 23 juillet 2009 - 16:00:09
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406909, version 1

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Citation

Pascal Nouet. The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE. Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, Italy. 2007, 〈www.patent-dfmm.org〉. 〈lirmm-00406909〉

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