Challenges in MEMS Manufacture Testing and Embedded Test Solutions - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Challenges in MEMS Manufacture Testing and Embedded Test Solutions

Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lionel Torres  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406914

Soumis le : jeudi 23 juillet 2009-16:06:39

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00406914 , version 1 (23-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406914 , version 1

Citer

Pascal Nouet. Challenges in MEMS Manufacture Testing and Embedded Test Solutions. NTC (Northern Test Center) Remote and Embedded Testing Seminar, Finland. ⟨lirmm-00406914⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER
25 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More