Challenges in MEMS Manufacture Testing and Embedded Test Solutions

Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
NTC (Northern Test Center) Remote and Embedded Testing Seminar, Finland. 2007, 〈www.ntcforum.org〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406914
Contributeur : Lionel Torres <>
Soumis le : jeudi 23 juillet 2009 - 16:06:39
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406914, version 1

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Citation

Pascal Nouet. Challenges in MEMS Manufacture Testing and Embedded Test Solutions. NTC (Northern Test Center) Remote and Embedded Testing Seminar, Finland. 2007, 〈www.ntcforum.org〉. 〈lirmm-00406914〉

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