Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing

Résumé

N/A

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553989

Soumis le : lundi 10 janvier 2011-12:01:25

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553989 , version 1 (10-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553989 , version 1

Citer

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. ⟨lirmm-00553989⟩

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