Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553989
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 10 janvier 2011 - 12:01:25
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553989, version 1

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Citation

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Test Relaxation and X-filling to Reduce Peak Power During At-Speed LOS Testing. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. 2010. 〈lirmm-00553989〉

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