Influence of Parasitic Memory Effect on Single-Cell Faults in SRAMs

Sandra Irobi 1 Zaid Al-Ars 1 Said Hamdioui 1 Michel Renovell 2
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Poster
DDECS'11: 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Germany. pp.159-162, 2011
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mardi 10 mai 2011 - 16:43:44
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00591995, version 1

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Sandra Irobi, Zaid Al-Ars, Said Hamdioui, Michel Renovell. Influence of Parasitic Memory Effect on Single-Cell Faults in SRAMs. DDECS'11: 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Germany. pp.159-162, 2011. 〈lirmm-00591995〉

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