Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric

Junxia Ma 1 Jeremy Lee 1 Nisar Ahmed 2 Patrick Girard 3 Mohammad Tehranipoor 1
3 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, United States. pp.127-130, 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00618748
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 2 septembre 2011 - 16:47:21
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 02:08:11

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00618748, version 1

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Citation

Junxia Ma, Jeremy Lee, Nisar Ahmed, Patrick Girard, Mohammad Tehranipoor. Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric. GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, United States. pp.127-130, 2010. 〈lirmm-00618748〉

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