Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric

Junxia Ma
  • Fonction : Auteur
University of Connecticut
Jeremy Lee
  • Fonction : Auteur
University of Connecticut
Nisar Ahmed
  • Fonction : Auteur
Texas Instrument
Patrick Girard
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Mohammad Tehranipoor
  • Fonction : Auteur
University of Connecticut

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00618748

Soumis le : vendredi 2 septembre 2011-16:47:21

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00618748 , version 1 (02-09-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00618748 , version 1

Citer

Junxia Ma, Jeremy Lee, Nisar Ahmed, Patrick Girard, Mohammad Tehranipoor. Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric. GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, United States. pp.127-130. ⟨lirmm-00618748⟩

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