Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00618748
Soumis le : vendredi 2 septembre 2011-16:47:21
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00618748 , version 1
Citer
Junxia Ma, Jeremy Lee, Nisar Ahmed, Patrick Girard, Mohammad Tehranipoor. Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric. GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, United States. pp.127-130. ⟨lirmm-00618748⟩
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