Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric

Type de document :
Communication dans un congrès
GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, United States. pp.127-130, 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 2 septembre 2011 - 16:47:21
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00618748, version 1

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Junxia Ma, Jeremy Lee, Nisar Ahmed, Patrick Girard, Mohammad Tehranipoor. Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric. GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, United States. pp.127-130, 2010. 〈lirmm-00618748〉

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