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Conference papers

Variability Analysis of an SRAM Test Chip

Renan Alves Fonseca 1 Luigi Dilillo 2 Alberto Bosio 2 Patrick Girard 2 Serge Pravossoudovitch 2 Arnaud Virazel 2 Nabil Badereddine 3 
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 INFINEON - SOPHIA - Infineon Technologies France
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00651791
Contributor : Martine Peridier Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, December 14, 2011 - 11:21:53 AM
Last modification on : Friday, August 5, 2022 - 10:48:06 AM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00651791, version 1

Collections

CNRS | SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Variability Analysis of an SRAM Test Chip. ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. ⟨lirmm-00651791⟩

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