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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
Variability Analysis of an SRAM Test Chip
Renan Alves Fonseca
1
Luigi Dilillo
2
Alberto Bosio
2
Patrick Girard
2
Serge Pravossoudovitch
2
Arnaud Virazel
2
Nabil Badereddine
3
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Renan Alves Fonseca 1
Author
Luigi Dilillo 2
Author IdHAL : luigi-dilillo
Alberto Bosio 2
Author IdHAL : alberto-bosio ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6116-7339
Patrick Girard 2
Author IdHAL : patrick-girard-lirmm
Serge Pravossoudovitch 2
Author
Arnaud Virazel 2
Author IdHAL : arnaud-virazel IdRef : https://www.idref.fr/068454724 ISNI : http://isni.org/isni/0000000139422532
Nabil Badereddine 3
Author
1
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
INFINEON - SOPHIA - Infineon Technologies France (Route des crêtes Sophia - Antipolis - France)
- Infineon Technologies AG [München] (Germany)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00651791
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Wednesday, December 14, 2011 - 11:21:53 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Wednesday, December 14, 2011 - 11:21:53 AM
Last modification on : Friday, November 27, 2020 - 6:04:03 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00651791, version 1
Citation
Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Variability Analysis of an SRAM Test Chip. ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. ⟨lirmm-00651791⟩
Metrics
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