Variability Analysis of an SRAM Test Chip

Renan Alves Fonseca 1 Luigi Dilillo 2 Alberto Bosio 2 Patrick Girard 2 Serge Pravossoudovitch 2 Arnaud Virazel 2 Nabil Badereddine 3
1 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
3 INFINEON - SOPHIA - Infineon Technologies France
Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. 16th IEEE European Test Symposium, 2011
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00651791
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mercredi 14 décembre 2011 - 11:21:53
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00651791, version 1

Collections

SYSMIC | LIRMM | LIRMM_MIC | MIC | MIPS | UNIV-MONTPELLIER

Citation

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Variability Analysis of an SRAM Test Chip. ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. 16th IEEE European Test Symposium, 2011. 〈lirmm-00651791〉

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