Variability Analysis of an SRAM Test Chip

Type de document :
Communication dans un congrès
ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. 16th IEEE European Test Symposium, 2011
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00651791
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : mercredi 14 décembre 2011 - 11:21:53
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00651791, version 1

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Citation

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Variability Analysis of an SRAM Test Chip. ETS: European Test Symposium, May 2011, Trondheim, Norway. 16th IEEE European Test Symposium, 2011. 〈lirmm-00651791〉

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