Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs

Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
NVM'11: Leading-Edge Embedded NVM Workshop, Gardane, France. 2011, 〈http://www.arcsis.org/1690.0.html?&L=1〉
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679494
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2012 - 17:11:34
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679494, version 1

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Citation

Arnaud Virazel. Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs. NVM'11: Leading-Edge Embedded NVM Workshop, Gardane, France. 2011, 〈http://www.arcsis.org/1690.0.html?&L=1〉. 〈lirmm-00679494〉

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