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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Conference papers
A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits
Ahn Duc Tran
1
Arnaud Virazel
2
Alberto Bosio
2
Luigi Dilillo
2
Patrick Girard
2
Serge Pravossoudovitch
2
Hans-Joachim Wunderlich
3
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Ahn Duc Tran 1
Author
Arnaud Virazel 2
Mail : Site :
Author IdHAL : arnaud-virazel IdRef : https://www.idref.fr/068454724 ISNI : http://isni.org/isni/0000000139422532
Alberto Bosio 2
Mail :
Author IdHAL : alberto-bosio ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6116-7339
Luigi Dilillo 2
Mail : Site :
Author IdHAL : luigi-dilillo
Patrick Girard 2
Mail : Site :
Author
Serge Pravossoudovitch 2
Mail : Site :
Author
Hans-Joachim Wunderlich 3
Author
1
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
2
SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
3
ITI - Institut für Technische Informatik (Prof. Hans-Joachim Wunderlich Universität Stuttgart - ITI Pfaffenwaldring 47 70569 Stuttgart - Germany)
- Universität Stuttgart [Stuttgart] (Keplerstraße 7, 70174 Stuttgart - Germany)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679513
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Thursday, March 15, 2012 - 5:28:20 PM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Thursday, March 15, 2012 - 5:28:20 PM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-00679513, version 1
Citation
Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits. GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. ⟨lirmm-00679513⟩
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