A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits

Type de document :
Communication dans un congrès
GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. 2011
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679513
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2012 - 17:28:20
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679513, version 1

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Citation

Ahn Duc Tran, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. A Hybrid Fault Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Circuits. GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. 2011. 〈lirmm-00679513〉

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