Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling

Type de document :
Communication dans un congrès
GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. 2011
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679522
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 15 mars 2012 - 17:37:42
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00679522, version 1

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Citation

Leonardo Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling. GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP, Lyon, France. 2011. 〈lirmm-00679522〉

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