Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Papers Year : 2011

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

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Girard_Nicolici_Wen_-_DATE_2011.pdf (4.14 Mo) Télécharger le fichier
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Dates and versions

lirmm-00820698 , version 1 (06-05-2013)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00820698 , version 1

Cite

Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices. DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2011, Grenoble, France. ⟨lirmm-00820698⟩
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