Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices

Alberto Bosio 1 Patrick Girard 1 Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
ICECS: International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Dec 2016, Monte Carlo, Monaco. 23rd IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, 2016, 〈http://icecs.isep.fr〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01433330
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : jeudi 12 janvier 2017 - 15:52:18
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01433330, version 1

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Citation

Alberto Bosio, Patrick Girard, Arnaud Virazel. Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices. ICECS: International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Dec 2016, Monte Carlo, Monaco. 23rd IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, 2016, 〈http://icecs.isep.fr〉. 〈lirmm-01433330〉

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