Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices

Alberto Bosio
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Patrick Girard
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Arnaud Virazel
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01433330

Soumis le : jeudi 12 janvier 2017-15:52:18

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01433330 , version 1 (12-01-2017)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01433330 , version 1

Citer

Alberto Bosio, Patrick Girard, Arnaud Virazel. Test of Low Power Circuits: Issues and Industrial Practices. ICECS: International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Dec 2016, Monte Carlo, Monaco. ⟨lirmm-01433330⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
86 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More