Proceedings of the 18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013) - May 27-30, 2013 - Avignon, France - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2013

Proceedings of the 18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013) - May 27-30, 2013 - Avignon, France

Patrick Girard
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Sybille Hellebrand
  • Fonction : Directeur scientifique
University of Paderborn
Zebo Peng
  • Fonction : Directeur scientifique
Linköping University
Matteo Sonza Reorda
Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin
Giorgio Di Natale
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Résumé

The IEEE European Test Symposium (ETS) is Europe’s premier forum dedicated to presenting and discussing scientific results, emerging ideas, practical applications, hot topics and new trends in the area of electronic-based circuits and system testing. In 2013 ETS will take place in the Congress Center of the Popes’ Palace in the beautiful city of Avignon, France

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Caroline Lebrun  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01433571

Soumis le : jeudi 12 janvier 2017-17:12:47

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01433571 , version 1 (12-01-2017)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01433571 , version 1

Citer

Patrick Girard, Sybille Hellebrand, Zebo Peng, Matteo Sonza Reorda, Giorgio Di Natale (Dir.). Proceedings of the 18th IEEE European Test Symposium (ETS 2013) - May 27-30, 2013 - Avignon, France. IEEE, 2013, 978-1-4673-6375-4. ⟨lirmm-01433571⟩

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