Scan Chain Encryption for the Test, Diagnosis and Debug of Secure Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2017

Scan Chain Encryption for the Test, Diagnosis and Debug of Secure Circuits

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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SETS_March2017_Alpes Huez_Presentation.pdf (1.04 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01892667

Soumis le : mercredi 10 octobre 2018-17:46:28

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:08

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Dates et versions

lirmm-01892667 , version 1 (10-10-2018)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01892667 , version 1

Citer

Mathieu da Silva, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Scan Chain Encryption for the Test, Diagnosis and Debug of Secure Circuits. SETS: South European Test Seminar, Mar 2017, Alpe d'Huez, France. , 2017. ⟨lirmm-01892667⟩

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