Circuit arrangement, a method for testing a supply voltage provided to a test circuit, and a method for repairing a voltage source - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Brevet Année : 2013

Circuit arrangement, a method for testing a supply voltage provided to a test circuit, and a method for repairing a voltage source

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-02089895

Soumis le : jeudi 4 avril 2019-11:43:09

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-02089895 , version 1 (04-04-2019)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-02089895 , version 1

Citer

Leonardo B. Zordan, Patrick Girard, Alberto Bosio, Nabil Badereddine. Circuit arrangement, a method for testing a supply voltage provided to a test circuit, and a method for repairing a voltage source. France, Patent n° : US20140307515. 2013. ⟨lirmm-02089895⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS LIRMM TEST LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
47 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More