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HAL-LIRMM - Open Archive |  |
Patents
Assist Circuits for SRAM Testing
Nabil Badereddine
1
Leonardo B. Zordan
1
Patrick Girard
2
Alberto Bosio
2
2
TEST - TEST
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Nabil Badereddine 1
Mail :
Author
Leonardo B. Zordan 1
Author
Patrick Girard 2
Mail : Site :
Author
Alberto Bosio 2
Mail :
Author IdHAL : alberto-bosio ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6116-7339
1
IMC - Intel Mobile Communications (GAIA, 2600 Route des Crêtes, 06560 Sophia Antipolis - France)
- Intel Mobile Communications (France)
- Intel (France)
2
TEST - TEST (France)
- LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (161 rue Ada - 34095 Montpellier - France)
- UM - Université de Montpellier : UMR5506 (163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellier - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5506 (France)
Complete list of metadatas
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-02089903
Contributor : Arnaud Virazel <>
Submitted on : Thursday, April 4, 2019 - 11:45:47 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 4:02:58 PM
Contributor : Arnaud Virazel <>
Submitted on : Thursday, April 4, 2019 - 11:45:47 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 4:02:58 PM
Identifiers
- HAL Id : lirmm-02089903, version 1
Citation
Nabil Badereddine, Leonardo B. Zordan, Patrick Girard, Alberto Bosio. Assist Circuits for SRAM Testing. France, Patent n° : US9418759. 2014. ⟨lirmm-02089903⟩
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