A Novel Test Flow for Approximate Digital Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

A Novel Test Flow for Approximate Digital Circuits

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Fichier principal
Vignette du fichier
PhdForum.pdf (65.08 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Isabelle Gouat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03993654

Soumis le : vendredi 17 février 2023-09:28:50

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:31

Archivage à long terme le : jeudi 18 mai 2023-18:15:20

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

lirmm-03993654 , version 1 (17-02-2023)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-03993654 , version 1

Citer

Marcello Traiola, Arnaud Virazel, Patrick Girard, Mario Barbareschi, Alberto Bosio. A Novel Test Flow for Approximate Digital Circuits. DATE 2020 - EDAA/IEEE/ACM Design Automation & Test in Europe Conference, PhD Forum, Mar 2020, Grenoble, France. ⟨lirmm-03993654⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS LIRMM TEST LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
7 Consultations
13 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More